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Pattern coding strategies for deflectometric measurement systems

Hofer, S.; Roschani, M.; Werling, S.


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1117/12.2022133
Dimensions
Zitationen: 3
Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Informatik – Institut für Anthropomatik (IFA)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-0-8194-9607-2
ISSN: 0277-786X
KITopen-ID: 1000037633
Erschienen in Videometrics, Range Imaging, and Applications XII - And Automated Visual Inspection, München, May 14-16, 2013. [Konferenz]. Ed.: F. Remondino
Verlag Society of Photo-optical Instrumentation Engineers (SPIE)
Seiten 879110/1-11
Serie Proceedings of SPIE ; 8791
Nachgewiesen in Dimensions
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