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Validation of three-dimensional diffraction contrast tomography reconstructions by means of electron backscatter diffraction characterization

Syha, M. 1; Trenkle, A. 1; Lödermann, B. 1; Graff, A.; Ludwig, W.; Weygand, D. 1; Gumbsch, P. 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1107/S002188981301580X
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Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen (IAM-ZBS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0021-8898
KITopen-ID: 1000037678
Erschienen in Journal of Applied Crystallography
Verlag International Union of Crystallography
Band 46
Seiten 1145-1150
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