Validation of three-dimensional diffraction contrast tomography reconstructions by means of electron backscatter diffraction characterization
Syha, M. 1; Trenkle, A. 1; Lödermann, B. 1; Graff, A.; Ludwig, W.; Weygand, D.
1; Gumbsch, P. 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Gumbsch, P. 11 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien - Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen (IAM-ZBS) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2013 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0021-8898 KITopen-ID: 1000037678 |
| Erschienen in | Journal of Applied Crystallography |
| Verlag | International Union of Crystallography |
| Band | 46 |
| Seiten | 1145-1150 |
| Nachgewiesen in | OpenAlex Web of Science Scopus Dimensions |
| Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung |