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Validation of three-dimensional diffraction contrast tomography reconstructions by means of electron backscatter diffraction characterization

Syha, M.; Trenkle, A.; Lödermann, B.; Graff, A.; Ludwig, W.; Weygand, D.; Gumbsch, P.

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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1107/S002188981301580X
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Zitationen: 12
Web of Science
Zitationen: 10
Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Maschinenbau (MACH)
Institut für Angewandte Materialien - Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen (IAM-ZBS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0021-8898
KITopen-ID: 1000037678
Erschienen in Journal of Applied Crystallography
Band 46
Seiten 1145-1150
Nachgewiesen in Web of Science
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