KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Integration von Messdaten in die Simulation zur multikriteriellen, zeiteffizienten versuchsbasierten Optimierung technischer Systeme = Integration of measurement data in the simulation for the multicriteria time-efficient testbased optimization of technical systems

Schwarz, Alexander

Abstract:

This draft presents a part of the operation system, which combines simulationmodels and the testbased optimization. Thereby, test data are used to parameterise physical model structures. Afterwards these physical models are used for the optimization of the design parameters. The advantage of this approach is that also parameters, which can only be changed slowly during a test, can be optimized with the help of the simulation models.


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000037800
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsjahr 2013
Sprache Deutsch
Identifikator ISSN: 1615-8113
urn:nbn:de:swb:90-378008
KITopen-ID: 1000037800
Verlag Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Serie Forschungsberichte: IPEK ; 71
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Maschinenbau (MACH)
Institut Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Prüfungsdaten 29.11.2013
Schlagwörter X-in-the-Loop(XiL)
Referent/Betreuer Albers, A.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page