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Data mining for defects in multicore applications: an entropy-based call-graph technique

Eichinger, Frank; Pankratius, Victor; Böhm, Klemens



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Programmstrukturen und Datenorganisation (IPD)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1002/cpe.2918
ISSN: 1532-0626
URN: urn:nbn:de:swb:90-378058
KITopen ID: 1000037805
Erschienen in Concurrency and Computation
Band 26
Heft 1
Seiten 1-20
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