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Data mining for defects in multicore applications: an entropy-based call-graph technique

Eichinger, Frank; Pankratius, Victor; Böhm, Klemens

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Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000037805
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1002/cpe.2918
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seit 12.05.2018
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seit 17.01.2014
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Programmstrukturen und Datenorganisation (IPD)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1532-0626
urn:nbn:de:swb:90-378058
KITopen-ID: 1000037805
Erschienen in Concurrency and Computation
Band 26
Heft 1
Seiten 1-20
Nachgewiesen in Scopus
Web of Science
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