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Definition of Metric Dependencies for Monitoring the Impact of Quality of Services on Quality of Processes

Mayerl, Christian; Hüner, Kai Moritz; Gaspar, Jens-Uwe; Momm, Christof; Abeck, Sebastian

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Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000037837
Coverbild
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Telematik (TM)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2007
Sprache Englisch
Identifikator urn:nbn:de:swb:90-378370
KITopen-ID: 1000037837
Erschienen in 2nd IEEE/IFIP International Workshop on Business-Driven IT Management, 2007 : BDIM '07 ; Munich, Germany, 21 May 2007
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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