Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Physik – Institut für Experimentelle Kernphysik (IEKP) |
Publikationstyp | Hochschulschrift |
Publikationsjahr | 2013 |
Sprache | Deutsch |
Identifikator | urn:nbn:de:swb:90-384033 KITopen-ID: 1000038403 |
Verlag | Karlsruher Institut für Technologie (KIT) |
Art der Arbeit | Dissertation |
Fakultät | Fakultät für Physik (PHYSIK) |
Institut | Fakultät für Physik – Institut für Experimentelle Kernphysik (IEKP) |
Prüfungsdaten | 29.11.2013 |
Schlagwörter | silicon, sensor, radiation, defect, model |
Referent/Betreuer | Müller, T. |