KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Untersuchung neuartiger Sensorkonzepte und Entwicklung eines effektiven Modells der Strahlenschädigung für die Simulation hochbestrahlter Silizium-Teilchendetektoren

Eber, Robert

Abstract:

Silicon sensors in the Tracker of the CMS experiment at CERN will suffer from sever radiation damage after the upgrade of the LHC beyond 2023. A new sensor design is presented and a two-defect radiation damage model for the simulation is developed for the prediction of the performance of future silicon sensors.


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000038403
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Physik – Institut für Experimentelle Kernphysik (IEKP)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsjahr 2013
Sprache Deutsch
Identifikator urn:nbn:de:swb:90-384033
KITopen-ID: 1000038403
Verlag Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Physik (PHYSIK)
Institut Fakultät für Physik – Institut für Experimentelle Kernphysik (IEKP)
Prüfungsdaten 29.11.2013
Schlagwörter silicon, sensor, radiation, defect, model
Referent/Betreuer Müller, T.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page