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Automatic Generation of Parallel Unit Tests

Schimmel, J.; Molitorisz, K.; Jannesari, A.; Tichy, W. F.

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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/IWAST.2013.6595789
Seitenaufrufe: 7
seit 06.06.2018
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Programmstrukturen und Datenorganisation (IPD)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 78-1-4673-6161-3
KITopen-ID: 1000038487
Erschienen in 8th International Workshop on Automation of Software Test (AST'13), San Francisco, California/USA, May 18-19, 2013. Ed.: H. Zhu
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 40-46
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