Automatic Generation of Parallel Unit Tests
Schimmel, J.; Molitorisz, K.; Jannesari, A.; Tichy, W. F.
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Programmstrukturen und Datenorganisation (IPD) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2013 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 78-1-4673-6161-3 KITopen-ID: 1000038487 |
| Erschienen in | 8th International Workshop on Automation of Software Test (AST'13), San Francisco, California/USA, May 18-19, 2013. Ed.: H. Zhu |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 40-46 |
| Nachgewiesen in | Dimensions |