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Real-time worst-case temperature analysis with temperature-dependent parameters

Yang, H.; Bacivarov, I.; Rai, D.; Chen, J.-J. 1; Thiele, L.
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1007/s11241-013-9188-y
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Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Informatik – Institut für Prozessrechentechnik, Automation und Robotik (IPR)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0922-6443
KITopen-ID: 1000038603
Erschienen in Real-Time Systems
Verlag Springer
Band 49
Heft 6
Seiten 730-762
Nachgewiesen in Scopus
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