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Test Strategies for Reliable Runtime Reconfigurable Architectures

Bauer, L.; Braun, C.; Imhof, M. E.; Kochte, M. A.; Schneider, E.; Zhang, H.; Henkel, J.; Wunderlich, H.-J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0018-9340
KITopen ID: 1000038649
Erschienen in IEEE Transactions on Computers
Band 62
Heft 8
Seiten 1494-1507
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