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Test Strategies for Reliable Runtime Reconfigurable Architectures

Bauer, L. 1; Braun, C.; Imhof, M. E.; Kochte, M. A.; Schneider, E.; Zhang, H. 1; Henkel, J. 1; Wunderlich, H.-J.
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TC.2013.53
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Zitationen: 24
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Zitationen: 22
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0018-9340
KITopen-ID: 1000038649
Erschienen in IEEE Transactions on Computers
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Band 62
Heft 8
Seiten 1494-1507
Nachgewiesen in Scopus
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Web of Science
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