Module diversification: Fault tolerance and aging mitigation for runtime reconfigurable architectures
Zhang, H.
; Bauer, L.; Kochte, M. A.; Schneider, E.; Braun, C.; Imhof, M. E.; Wunderlich, H.-J.; Henkel, J.
; Bauer, L.; Kochte, M. A.; Schneider, E.; Braun, C.; Imhof, M. E.; Wunderlich, H.-J.; Henkel, J.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2013 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-47-990860-8 KITopen-ID: 1000038859 |
| Erschienen in | IEEE International Test Conference (ITC'13), Anaheim, California/USA, September 6-13, 2013 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 1-10 |
| Nachgewiesen in | Dimensions OpenAlex |