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Reliable on-chip systems in the nano-era: Lessons learnt and future trends

Henkel, J.; Bauer, L.; Dutt, N.; Gupta, P.; Nassif, S.; Shafique, M.; Tahoori, M.; Wehn, N.


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1145/2463209.2488857
Dimensions
Zitationen: 168
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4503-2071-9
KITopen-ID: 1000038864
Erschienen in 50th ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference (DAC'13) Austin, Texas/USA, June 2-6, 2013
Verlag Association for Computing Machinery (ACM)
Seiten 1-10
Nachgewiesen in Dimensions
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