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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1145/2463209.2488755

Exploiting program-level masking and error propagation for constrained reliability optimization

Shafique, M.; Rehman, S.; Aceituno, P. V.; Henkel, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4503-2071-9
KITopen ID: 1000038869
Erschienen in 50th ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference (DAC'13), Austin, Texas/USA, June 2-6, 2013
Verlag ACM, New York (NY)
Seiten 17/1-9
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