Exploiting program-level masking and error propagation for constrained reliability optimization
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2013 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-4503-2071-9 KITopen-ID: 1000038869 |
| Erschienen in | 50th ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference (DAC'13), Austin, Texas/USA, June 2-6, 2013 |
| Verlag | Association for Computing Machinery (ACM) |
| Seiten | 17/1-9 |
| Nachgewiesen in | Dimensions |