KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

CSER: HW/SW configurable soft-error resiliency for application specific instruction-set processors

Li, T.; Shafique, M.; Rehman, S.; Radhakrishnan, S.; Ragel, R.; Ambrose, J. A.; Henkel, J.; Parameswaran, S.


Originalveröffentlichung
DOI: 10.7873/DATE.2013.152
Dimensions
Zitationen: 6
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4673-5071-6
KITopen-ID: 1000038878
Erschienen in Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE'13), Grenoble, France, March 18-22, 2013
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 707-712
Nachgewiesen in Dimensions
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page