CEP: Correlated Error Propagation for Hierarchical Soft Error Analysis
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2013 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0923-8174 KITopen-ID: 1000038896 |
| Erschienen in | Journal of Electronic Testing |
| Verlag | Springer |
| Band | 29 |
| Heft | 2 |
| Seiten | 143-158 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions Web of Science |