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CEP: Correlated Error Propagation for Hierarchical Soft Error Analysis

Chen, L.; Ebrahimi, M.; Tahoori, M. B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0923-8174
KITopen ID: 1000038896
Erschienen in Journal of Electronic Testing
Band 29
Heft 2
Seiten 143-158
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