Altering LUT Configuration for Wear-out Mitigation of FPGA-Mapped Designs
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2013 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-47-990005-3 KITopen-ID: 1000038901 |
| Erschienen in | 23rd International Conference on Field Programmable Logic and Applications (FPL'13), Porto, Portugal, September 2-4, 2013 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 1-8 |
| Nachgewiesen in | Dimensions |