Towards a Hierarchical and Scalable Approach for Modeling the Effects of SETs

Costenaro, E.; Evans, A.; Alexandrescu, D.; Chen, L.; Tahoori, M.; Nicolaidis, M.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	2013
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 1000038908
Erschienen in	IEEE 9th Workshop on Silicon Errors in Logic - System Effects (SELSE'13), Stanford, California/USA, March 26-27, 2013