A layout-aware x-filling approach for dynamic power supply noise reduction in at-speed scan testing
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2013 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-4673-6376-1 KITopen-ID: 1000038967 |
| Erschienen in | 18th IEEE European Test Symposium (ETS'13), Avignon, France, May 27-30, 20123 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 1-6 |
| Nachgewiesen in | Dimensions |