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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/ASPDAC.2013.6509664

CLASS: Combined Logic and Architectural Soft Error Sensitivity Analysis

Ebrahimi, M.; Chen, L.; Asadi, H.; Tahoori, M. B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4673-3029-9
KITopen ID: 1000038972
Erschienen in 18th Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC'13), Yokohama, Japan, January 22-25, 2013
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 601-607
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