Statistical analysis of BTI in the presence of process-induced voltage and temperature variations
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2013 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-4673-3029-9 KITopen-ID: 1000038973 |
| Erschienen in | 18th Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC'13), Yokohama, Japan, January 22-25, 2013 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 594-600 |
| Nachgewiesen in | Dimensions |