Aging-aware timing analysis considering combined effects of NBTI and PBTI
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2013 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-4673-4951-2 KITopen-ID: 1000038975 |
| Erschienen in | 14th International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED'13), Santa Clara, California/USA, March 4-6, 2013 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 53-59 |
| Nachgewiesen in | Dimensions |