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Sn and Nb modified ultrafine Ti-based bulk alloys with high-strength and enhanced ductility

Cao, G. H.; Schneider, R. 1; Gerthsen, D. 1; Chulist, R.; Schaarschuch, R.; Oertel, C.-G.; Skrotzki, W.
1 Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.4792592
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Zitationen: 17
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Zitationen: 18
Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0003-6951
KITopen-ID: 1000039409
Erschienen in Applied Physics Letters
Verlag American Institute of Physics (AIP)
Band 102
Heft 6
Seiten 061908 - 061908-4
Nachgewiesen in Scopus
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