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Transmission electron microscopy investigation of AlN growth on Si(111)

Litvinov, D. 1,2; Gerthsen, D. 1,2; Vöhringer, R. 2,3; Hu, D. Z. 2,3; Schaadt, D. M. 2,3
1 Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Center for Functional Nanostructures (CFN), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
3 Institut für Angewandte Physik (APH), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.jcrysgro.2011.11.038
Scopus
Zitationen: 15
Web of Science
Dimensions
Zitationen: 15
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Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0022-0248
KITopen-ID: 1000039549
Erschienen in Journal of Crystal Growth
Verlag Elsevier
Band 338
Heft 1
Seiten 283-290
Nachgewiesen in Dimensions
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