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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.jcrysgro.2011.11.038
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Transmission electron microscopy investigation of AlN growth on Si(111)

Litvinov, D.; Gerthsen, D.; Vöhringer, R.; Hu, D.Z.; Schaadt, D.M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0022-0248
KITopen ID: 1000039549
Erschienen in Journal of Crystal Growth
Band 338
Heft 1
Seiten 283-290
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