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Classification in High-Dimensional Feature Spaces - Assessment Using SVM, IVM and RVM With Focus on Simulated EnMAP Data

Braun, A. C.; Weidner, U.; Hinz, S.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Photogrammetrie und Fernerkundung (IPF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1939-1404
KITopen ID: 1000039597
Erschienen in IEEE Journal of Selected Topics in Applied Earth Observations and Remote Sensing
Band 5
Heft 2
Seiten 436-443
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