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Interface-driven phase separation in multifunctional materials: The case of the ferromagnetic semiconductor GeMn

Arras, E.; Lançon, F.; Slipukhina, I.; Prestat, I. 1; Rovezzi, M.; Tardif, S.; Titov, A.; Bayle-Guillemaud, P.; D'Acapito, F.; Barski, A.; Favre-Nicolin, V.; Jamet, M.; Cibert, J.; Pochet, P.
1 Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1103/PhysRevB.85.115204
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Zitationen: 21
Dimensions
Zitationen: 22
Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1098-0121
KITopen-ID: 1000039610
Erschienen in Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics
Verlag American Physical Society (APS)
Band 85
Heft 11
Seiten 115204
Nachgewiesen in Dimensions
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