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Characterization of Vacuum Chamber Samples for Superconducting Insertion Devices

Saez de Jauregui, D.; Baumbach, T.; Casalbuoni, S.; Grau, A.; Gerstl, S.; Hagelstein, M.; Heske, C.; Holubek, T.; Krause, B.; Seiler, A.; Stankov, S.; Weinhardt, L.; Boffo, C.; Antoine, C.; Boudigou, Y.

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DOI: 10.5445/IR/1000039628
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Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Applikationen der Synchrotronstrahlung (LAS)
Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-95450-115-1
urn:nbn:de:swb:90-396285
KITopen-ID: 1000039628
HGF-Programm 55.51.20 (POF II, LK 02)
Erschienen in IPAC2012, May 20 - 25, 2012, New Orleans, Louisiana, USA. Ed.: J. Corbett,
Verlag IEEE, Washington
Seiten 723-725
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