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EVM as new quality metric for optical modulation analysis

Nebendahl, B.; Freude, W. 1; Koos, C. 1; Leuthold, J. 1,2; Huebner, M. 3; Schmogrow, R. 1; Josten, A. 1; Hillerkuss, D. 1; Koenig, S. 1; Winter, M. 1; Meyer, J. 3; Dreschmann, M. 3
1 Institut für Photonik und Quantenelektronik (IPQ), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
3 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/SIECPC.2013.6551002
Scopus
Zitationen: 6
Dimensions
Zitationen: 4
BibTeX (UTF-8) BibTeX (ASCII) EndNote/Refer (.enw) RIS CSL-JSON ISI
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Institut für Photonik und Quantenelektronik (IPQ)
Universität Karlsruhe (TH) – Interfakultative Einrichtungen (Interfakultative Einrichtungen)
Karlsruhe School of Optics & Photonics (KSOP)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4673-6196-5
KITopen-ID: 1000039710
HGF-Programm 43.14.04 (POF II, LK 01) Teratronics
Erschienen in The 2nd Saudi International Electronics, Communications and Photonics Conference (SIECPC'13), Riad, SAU, April 27-30, 2013
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten Article no 6551002
Nachgewiesen in Scopus
Dimensions
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