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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1364/CLEO_SI.2013.AF1J.4

Polarization-Sensitive Optical Coherence Tomography for Characterization of Size and Shape of Nano-Particles

Schneider, Simon; Krämer, Alexandra; Eppler, Florian; Alemye, Hanna; Huebner, Christof; Mikonsaari, Irma; Leuthold, Jürg; Freude, Wolfgang; Koos, Christian



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Institut für Photonik und Quantenelektronik (IPQ)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-55752-972-5
KITopen ID: 1000039711
HGF-Programm 43.14.04; LK 01
Erschienen in CLEO : Science and Innovations : Part of Conference on Lasers and Electro-Optics, San Jose, California, United States, 9th - 14th May 2013,
Verlag OSA, Washington (DC)
Seiten Art.Nr. AF1J.4
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