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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1364/CLEO_SI.2013.AF1J.4

Polarization-Sensitive Optical Coherence Tomography for Characterization of Size and Shape of Nano-Particles

Schneider, S.; Krämer, A.; Eppler, F.; Alemye, H.; Hübner, C.; Mikonsaari, I.; Leuthold, J.; Freude, W.; Koos, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Institut für Photonik und Quantenelektronik (IPQ)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-55752-972-5
KITopen ID: 1000039711
HGF-Programm 43.14.04; LK 01
Erschienen in Conference on Lasers and Electro-Optics (CLEO'13), San Jose, California/USA, June 9-14, 2013
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