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Polarization-Sensitive Optical Coherence Tomography for Characterization of Size and Shape of Nano-Particles

Schneider, Simon; Krämer, Alexandra; Eppler, Florian; Alemye, Hanna; Huebner, Christof; Mikonsaari, Irma; Leuthold, Jürg; Freude, Wolfgang; Koos, Christian


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1364/CLEO_SI.2013.AF1J.4
Dimensions
Zitationen: 1
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Institut für Photonik und Quantenelektronik (IPQ)
Universität Karlsruhe (TH) – Interfakultative Einrichtungen (Interfakultative Einrichtungen)
Karlsruhe School of Optics & Photonics (KSOP)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-55752-972-5
KITopen-ID: 1000039711
HGF-Programm 43.14.04 (POF II, LK 01) Teratronics
Erschienen in CLEO : Science and Innovations : Part of Conference on Lasers and Electro-Optics, San Jose, California, United States, 9th - 14th May 2013,
Verlag Optica Publishing Group (OSA)
Seiten Art.Nr. AF1J.4
Nachgewiesen in Dimensions
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