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Edge superconductivity in Nb thin film microbridges revealed by electric transport measurements and visualized by scanning laser microscopy

Werner, R.; Aladyshkin, A.Yu.; Nefedov, I.M.; Putilov, A.V.; Kemmler, M.; Bothner, D.; Loerincz, A.; Ilin, K.; Siegel, M.; Kleiner, R.; Koelle, D.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1088/0953-2048/26/9/095011
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Zitationen: 4
Web of Science
Zitationen: 5
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0953-2048
KITopen-ID: 1000039904
Erschienen in Superconductor Science and Technology
Band 26
Heft 9
Seiten 095011
Nachgewiesen in Web of Science
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