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Edge superconductivity in Nb thin film microbridges revealed by electric transport measurements and visualized by scanning laser microscopy

Werner, R.; Aladyshkin, A. Yu.; Nefedov, I. M.; Putilov, A. V.; Kemmler, M.; Bothner, D.; Loerincz, A. 1; Ilin, K. 1; Siegel, M. 1; Kleiner, R.; Koelle, D.
1 Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1088/0953-2048/26/9/095011
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Zitationen: 8
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Zitationen: 7
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Zitationen: 9
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Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0953-2048
KITopen-ID: 1000039904
Erschienen in Superconductor Science and Technology
Verlag Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd)
Band 26
Heft 9
Seiten 095011
Nachgewiesen in Scopus
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