Design for Testability for Micro-mechatronic Systems
Lanza, G.; Blank, T.
; Haefner, B.
; Haefner, B.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Produktionstechnik (WBK) Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2013 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-3-642-30816-1 ISSN: 2194-0525 KITopen-ID: 1000039981 |
| HGF-Programm | 43.14.03 (POF II, LK 01) System integration |
| Erschienen in | Smart Product Engineering : Proceedings of the 23rd CIRP Design Conference, Bochum, 11.-13. März 2013 |
| Verlag | Springer-Verlag |
| Seiten | 283-292 |
| Serie | Lecture Notes in Production Engineering |
| Nachgewiesen in | Dimensions |