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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1007/978-3-642-30817-8_28

Design for Testability for Micro-mechatronic Systems

Lanza, G.; Blank, T.; Haefner, B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktionstechnik (WBK)
Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-642-30816-1
ISSN: 2194-0525
KITopen ID: 1000039981
HGF-Programm 43.14.03; LK 01
Erschienen in Smart Product Engineering : Proceedings of the 23rd CIRP Design Conference, Bochum, 11.-13. März 2013
Verlag Springer, Berlin
Seiten 283-292
Serie Lecture Notes in Production Engineering
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