Neue Simulationsmethode zur Randschichtcharakterisierung unter Berücksichtigung der Mehrfachspanbildung beim Räumen
Osterried, J.; Zanger, F.
; Autenrieth, H.; Schulze, V.
; Autenrieth, H.; Schulze, V.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Produktionstechnik (WBK) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2010 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | ISBN: 978-3-8322-9036-8 KITopen-ID: 1000040151 |
| Erschienen in | Graduiertenkolleg 1483 - Prozessketten in der Fertigung: Wechselwirkung, Modellbildung und Bewertung von Prozesszonen, Begleitband zur 1. jährlichen Klausurtagung 2010. Hrsg.: R. Pabst |
| Verlag | Shaker Verlag |
| Seiten | 57-61 |