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Neue Simulationsmethode zur Randschichtcharakterisierung unter Berücksichtigung der Mehrfachspanbildung beim Räumen

Osterried, J.; Zanger, F.; Autenrieth, H.; Schulze, V.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktionstechnik (WBK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2010
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 978-3-8322-9036-8
KITopen ID: 1000040151
Erschienen in Graduiertenkolleg 1483 - Prozessketten in der Fertigung: Wechselwirkung, Modellbildung und Bewertung von Prozesszonen, Begleitband zur 1. jährlichen Klausurtagung 2010. Hrsg.: R. Pabst
Verlag Shaker Verlag, Aachen
Seiten 57-61
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