KIT | KIT-Bibliothek | Impressum

Automated Measurement Data Analysis for Micro Structured Surfaces

Lanza, G.; Schulze, V.; Stockey, S.; Chlipala, M.; Haefner, B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktionstechnik (WBK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-0-9566790-0-0
KITopen ID: 1000040159
Erschienen in 12th International Conference of the European Society for Precision Engineering & Nanotechnology, 04.06.2012 - 07.06.2012, Stockholm, Sweden
Verlag Verlag Sieca Repro, Delft
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page