Automated Measurement Data Analysis for Micro Structured Surfaces
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Produktionstechnik (WBK) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2012 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-0-9566790-0-0 KITopen-ID: 1000040159 |
| Erschienen in | 12th International Conference of the European Society for Precision Engineering & Nanotechnology, 04.06.2012 - 07.06.2012, Stockholm, Sweden. Vol. 1 |
| Veranstaltung | 12th International Conference of the European Society for Precision Engineering and Nanotechnology (EUSPEN 2012), Stockholm, Schweden, 04.06.2012 – 07.06.2012 |
| Verlag | European Society for Precision Engineering and Nanotechnology (euspen) |
| Seiten | 235 - 238 |
| Nachgewiesen in | Scopus |