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Automated Measurement Data Analysis for Micro Structured Surfaces

Lanza, G.; Schulze, V.; Stockey, S.; Chlipala, M.; Haefner, B.


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Zitationen: 1
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktionstechnik (WBK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-0-9566790-0-0
KITopen-ID: 1000040159
Erschienen in 12th International Conference of the European Society for Precision Engineering & Nanotechnology, 04.06.2012 - 07.06.2012, Stockholm, Sweden. Vol. 1
Veranstaltung 12th International Conference of the European Society for Precision Engineering and Nanotechnology (EUSPEN 2012), Stockholm, Schweden, 04.06.2012 – 07.06.2012
Verlag European Society for Precision Engineering and Nanotechnology (euspen)
Seiten 235 - 238
Nachgewiesen in Scopus
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