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Quantification of Ni/YSZ-Anode Microstructure Parameters derived from FIB-tomography

Joos, Jochen; Ender, M.; Rotscholl, I.; Menzler, N.; Weber, André; Ivers-Tiffée, Ellen



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Werkstoffe der Elektrotechnik (IWE)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 1000040310
Erschienen in Proceedings - 10th European SOFC Forum 2012 : 26 - 29 June 2012, KKL Lucerne, Switzerland. International Solid Oxide Fuel Cell and Electrolyser Conference with Exhibition. Conference agenda. Ed.: F. Lefebvre-Joud
Seiten 80 - 91
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