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A New Validation Concept for Globally Distributed Multidisciplinary Product Development

Albers, A.; You, Y.; Klingler, S.; Behrendt, M.; Zhang, T.; Song, K.


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1007/978-3-642-40063-6_23
Dimensions
Zitationen: 7
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-642-40062-9
KITopen-ID: 1000040377
Erschienen in Proceedings of 20th International Conference on Industrial Engineering and Engineering Management : Theory and Apply of Industrial Engineering
Verlag Springer-Verlag
Seiten 231-242
Nachgewiesen in Dimensions
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