KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Development and statistical evaluation of manufacturing-oriented bead patterns

Majic, N.; Albers, A.; Kalmbach, M.; Clausen, P.M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0965-9978
KITopen ID: 1000040403
Erschienen in Advances in Engineering Software
Band 57
Seiten 40-47
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page