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High resolution interference microscopy: A tool for probing optical waves in the far-field on a nanometric length scale

Rockstuhl, C.; Märki, I.; Scharf, T.; Salt, M.; Herzig, H.P.; Dändliker, R.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Theoretische Festkörperphysik (TFP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2006
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.2174/157341306778699383
ISSN: 1573-4137
KITopen ID: 1000040503
Erschienen in Current Nanoscience
Band 2
Heft 4
Seiten 337-350
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