High resolution interference microscopy: A tool for probing optical waves in the far-field on a nanometric length scale
Rockstuhl, C.
; Märki, I.; Scharf, T.; Salt, M.; Herzig, H. P.; Dändliker, R.
; Märki, I.; Scharf, T.; Salt, M.; Herzig, H. P.; Dändliker, R.
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Theoretische Festkörperphysik (TFP) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2006 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1573-4137 KITopen-ID: 1000040503 |
| Erschienen in | Current Nanoscience |
| Verlag | Bentham Science Publishers |
| Band | 2 |
| Heft | 4 |
| Seiten | 337-350 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Web of Science Scopus |