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High resolution interference microscopy: A tool for probing optical waves in the far-field on a nanometric length scale

Rockstuhl, C.; Märki, I.; Scharf, T.; Salt, M.; Herzig, H. P.; Dändliker, R.


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.2174/157341306778699383
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Zitationen: 36
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Theoretische Festkörperphysik (TFP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2006
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1573-4137
KITopen-ID: 1000040503
Erschienen in Current Nanoscience
Verlag Bentham Science Publishers
Band 2
Heft 4
Seiten 337-350
Nachgewiesen in Dimensions
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