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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TCAD.2013.2295799
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Zitationen: 2

RESI: Register-Embedded Self-Immunity for Reliability Enhancement

Amrouch, H.; Ebi, T.; Henkel, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0278-0070
KITopen ID: 1000040596
Erschienen in IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
Band 33
Heft 5
Seiten 677 - 690
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