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Self-sensing atomic force microscopy cantilevers based on tunnel magnetoresistance sensors

Tavassolizadeh, A.; Meier, T. 1; Rott, K.; Reiss, G.; Quandt, E.; Hölscher, H. ORCID iD icon 1; Meyners, D.
1 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.4801315
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Zitationen: 17
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Zitationen: 16
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0003-6951, 1077-3118
KITopen-ID: 1000040863
HGF-Programm 43.16.02 (POF II, LK 02) KNMF laboratory for microscopy a.spect.
Erschienen in Applied physics letters
Verlag American Institute of Physics (AIP)
Band 102
Heft 15
Seiten 153104/1-4
Nachgewiesen in Scopus
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Web of Science
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