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Experimental results from a preclinical X-ray phase-contrast CT scanner

Tapfer, Arne; Bech, Martin; Velroyen, Astrid; Meiser, Jan; Mohr, Jürgen; Walter, Marco; Schulz, Joachim; Pauwels, Bart; Bruyndonckx, Peter; Liu, Xuan; Sasov, Alexander; Pfeiffer, Franz



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0027-8424, 1091-6490
KITopen ID: 1000040918
HGF-Programm 43.14.02; LK 01
Erschienen in Proceedings of the National Academy of Sciences of the United States of America
Band 109
Heft 39
Seiten 15691-15696
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