Fabrication and characterization of analyzer gratings with high aspect ratios for phase contrast imaging using a Talbot interferometer

Kenntner, J.; Altapova, V.; Grund, T.; Pantenburg F. J.; Meiser, J.; Baumbach, T.; Mohr, J.

doi:10.1063/1.3703349

Fabrication and characterization of analyzer gratings with high aspect ratios for phase contrast imaging using a Talbot interferometer

Kenntner, J. ¹; Altapova, V. ²; Grund, T. ¹; Pantenburg F. J.; Meiser, J. ¹; Baumbach, T. ²; Mohr, J. ¹
¹ Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
² Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

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DOI: 10.1063/1.3703349

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) Institut für Synchrotronstrahlung (ISS) Universität Karlsruhe (TH) – Interfakultative Einrichtungen (Interfakultative Einrichtungen) Karlsruhe School of Optics & Photonics (KSOP)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	2012
Sprache	Englisch
Identifikator	ISBN: 978-073541027-5 ISSN: 0094-243X KITopen-ID: 1000040925
HGF-Programm	43.14.02 (POF II, LK 01) X-Ray-Optics
Erschienen in	AIP Conference Proceedings : 21st International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis, ICXOM21; Campinas; Brazil; 5 September 2011 - 9 September 2011
Verlag	American Institute of Physics (AIP)
Seiten	89-93
Serie	AIP Conference Proceedings ; 1437
Nachgewiesen in	Dimensions Scopus

Repository KITopen

Fabrication and characterization of analyzer gratings with high aspect ratios for phase contrast imaging using a Talbot interferometer