KIT | KIT-Bibliothek | Impressum

Fabrication and characterization of analyzer gratings with high aspect ratios for phase contrast imaging using a Talbot interferometer

Kenntner, J.; Altapova, V.; Grund, T.; Pantenburg F. J.; Meiser, J.; Baumbach, T.; Mohr, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-073541027-5
ISSN: 0094-243X
KITopen ID: 1000040925
HGF-Programm 43.14.02; LK 01
Erschienen in AIP Conference Proceedings : 21st International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis, ICXOM21; Campinas; Brazil; 5 September 2011 - 9 September 2011
Verlag AIP, Melville (NY)
Seiten 89-93
Serie AIP Conference Proceedings ; 1437
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page