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Three dimensional X-ray diffraction contrast tomography reconstruction of polycrystalline strontium titanate during sintering and electron backscatter diffraction validation

Syha, M.; Rheinheimer, W.; Loedermann, B.; Graff, A.; Trenkle, A.; Baeurer, M.; Weygand, D.; Ludwig, W.; Gumbsch, P.



Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Maschinenbau (MACH)
Institut für Angewandte Materialien - Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen (IAM-ZBS)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-118-76689-7
KITopen ID: 1000041070
Erschienen in Proceedings of the 2nd World Congress on Integrated Computational Materials Engineering (ICME) : TMS ICME - manufacturing, design, materials ; held July 7 - 11, 2013 at Salt Lake Marriott Downtown at City Creek, Salt Lake City, Utah. Ed.: M. Li
Verlag Wiley, Weinheim
Seiten 259-264
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