Three dimensional X-ray diffraction contrast tomography reconstruction of polycrystalline strontium titanate during sintering and electron backscatter diffraction validation

Syha, M.; Rheinheimer, W.; Loedermann, B.; Graff, A.; Trenkle, A.; Baeurer, M.; Weygand, D.; Ludwig, W.; Gumbsch, P.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Angewandte Materialien - Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen (IAM-ZBS)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	2013
Sprache	Englisch
Identifikator	ISBN: 978-1-118-76689-7 KITopen-ID: 1000041070
Erschienen in	Proceedings of the 2nd World Congress on Integrated Computational Materials Engineering (ICME) : TMS ICME - manufacturing, design, materials ; held July 7 - 11, 2013 at Salt Lake Marriott Downtown at City Creek, Salt Lake City, Utah. Ed.: M. Li
Verlag	Wiley-VCH Verlag
Seiten	259-264