KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Optimal Process Control through Feature-Based State Tracking Along Process Chains

Senn, M.; Link, N.; Gumbsch, P.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen (IAM-ZBS)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-118-76689-7
KITopen-ID: 1000041074
Erschienen in Proceedings of the 2nd World Congress on Integrated Computational Materials Engineering (ICME) : TMS ICME - manufacturing, design, materials ; held July 7 - 11, 2013 at Salt Lake Marriott Downtown at City Creek, Salt Lake City, Utah. Ed.: M. Li
Verlag Wiley-VCH Verlag
Seiten 69-74
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page