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Optimal Process Control through Feature-Based State Tracking Along Process Chains

Senn, M.; Link, N.; Gumbsch, P.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen (IAM-ZBS)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-118-76689-7
KITopen ID: 1000041074
Erschienen in Proceedings of the 2nd World Congress on Integrated Computational Materials Engineering (ICME) : TMS ICME - manufacturing, design, materials ; held July 7 - 11, 2013 at Salt Lake Marriott Downtown at City Creek, Salt Lake City, Utah. Ed.: M. Li
Verlag Wiley, Weinheim
Seiten 69-74
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