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Analysis of electronic subgap states in amorphous semiconductor oxides based on the example of Zn-Sn-O systems

Körner, W.; Gumbsch, P.; Elsässer, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen (IAM-ZBS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1098-0121
KITopen ID: 1000041081
Erschienen in Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics
Band 86
Heft 16
Seiten 165210
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