Analysis of electronic subgap states in amorphous semiconductor oxides based on the example of Zn-Sn-O systems
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien - Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen (IAM-ZBS) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2012 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1098-0121 KITopen-ID: 1000041081 |
| Erschienen in | Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics |
| Verlag | American Physical Society (APS) |
| Band | 86 |
| Heft | 16 |
| Seiten | 165210 |
| Nachgewiesen in | Dimensions OpenAlex Web of Science Scopus |