KIT | KIT-Bibliothek | Impressum
Originalveröffentlichung
DOI: 10.4028/www.scientific.net/MSF.768-769.136

Influence of the interfacial roughness on residual stress analysis of thick film systems by incremental hole drilling

Obelode, E.; Gibmeier, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Wasserwirtschaft und Kulturtechnik, Versuchsanstalt für Wasserbau (IWK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-03785-849-3
ISSN: 0255-5476
KITopen ID: 1000041088
Erschienen in International Conference on Residual Stresses 9 (ICRS 9) : selected, peer reviewed papers from the 9th International Conference on residual Stresses (ICRS 9), October 7-9, 2012, Garmisch-Partenkirchen, Germany. Ed.: S.J.B Kurz
Verlag Trans Tech Publications, Dürnten
Seiten 136-143
Serie Materials Science Forum ; 768-769
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page