Influence of the interfacial roughness on residual stress analysis of thick film systems by incremental hole drilling
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien – Werkstoffkunde (IAM-WK) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2014 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-3-03785-849-3 ISSN: 0255-5476 KITopen-ID: 1000041088 |
| Erschienen in | International Conference on Residual Stresses 9 (ICRS 9) : selected, peer reviewed papers from the 9th International Conference on residual Stresses (ICRS 9), October 7-9, 2012, Garmisch-Partenkirchen, Germany. Ed.: S.J.B Kurz |
| Verlag | Trans Tech Publications |
| Seiten | 136-143 |
| Serie | Materials Science Forum ; 768-769 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions |