KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Residual stress analysis of thick film systems by the incremental hole-drilling method

Held, E. 1; Gibmeier, J. 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.3139/105.110216
Scopus
Zitationen: 7
Dimensions
Zitationen: 7
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien – Werkstoffkunde (IAM-WK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0017-6583, 0341-101x, 1867-2493, 2194-1831, 2194-1831
KITopen-ID: 1000041102
Erschienen in HTM - journal of heat treatment and materials
Verlag Carl Hanser Verlag
Band 69
Heft 2
Seiten 71-79
Nachgewiesen in Dimensions
Scopus
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page