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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1002/pamm.201310005

Micromechanical Simulation of the Hall-Petch Effect with a Crystal Gradient Theory including a Grain Boundary Yield Criterion

Wulfinghoff, S.; Bayerschen, E.; Böhlke, T.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Mechanik (ITM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1617-7061
KITopen ID: 1000041243
Erschienen in PAMM Special Issue: 84th Annual Meeting of the International Association of Applied Mathematics and Mechanics (GAMM), Novi Sad 2013; Editors: L. Cvetković
Band 13
Heft 1
Seiten 15–18
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