Using a neural network approach for backtesting methodologies for estimating and forecasting asset risk

Scherrer, C.; Rachev, S. T.; Kim, Y. S.; Feindt, M.; Fabozzi, F. J.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Volkswirtschaftslehre (ECON)
Publikationstyp	Buch
Publikationsjahr	2009
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 1000041548
Verlag	Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Umfang	34 S.