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Using a neural network approach for backtesting methodologies for estimating and forecasting asset risk

Scherrer, C.; Rachev, S. T.; Kim, Y. S.; Feindt, M.; Fabozzi, F. J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Volkswirtschaftslehre (ECON)
Publikationstyp Buch
Jahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 1000041548
Verlag KIT, Karlsruhe
Umfang 34 S.
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