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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.4795540
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Zitationen: 5

Test of the fluctuation theorem for single-electron transport

Küng, B.; Rössler, C.; Beck, M.; Marthaler, M.; Golubev, D.S.; Utsumi, Y.; Ihn, T.; Ensslin, K.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Institut für Theoretische Festkörperphysik (TFP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0021-8979
KITopen ID: 1000041583
HGF-Programm 43.11.02; LK 01
Erschienen in Journal of Applied Physics
Band 113
Heft 13
Seiten Art.Nr. 136507/1-6
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