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Test of the fluctuation theorem for single-electron transport

Küng, B.; Rössler, C.; Beck, M.; Marthaler, M. 1; Golubev, D. S. 2; Utsumi, Y.; Ihn, T.; Ensslin, K.
1 Center for Functional Nanostructures (CFN), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.4795540
Scopus
Zitationen: 7
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Dimensions
Zitationen: 8
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Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Institut für Theoretische Festkörperphysik (TFP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0021-8979
KITopen-ID: 1000041583
HGF-Programm 43.11.02 (POF II, LK 01) Electronic transport in nanostructures
Erschienen in Journal of Applied Physics
Verlag American Institute of Physics (AIP)
Band 113
Heft 13
Seiten Art.Nr. 136507/1-6
Nachgewiesen in Dimensions
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