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Measuring Intra-Daily Market Risk: A Neural Network Approach

Sun, Wei; Rachev, Svetlozar T.; Chen, Ye; Fabozzi, Frank J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Volkswirtschaftslehre (ECON)
Publikationstyp Buch
Publikationsjahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000041629
Verlag Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Umfang 20 S.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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