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Measuring Intra-Daily Market Risk: A Neural Network Approach

Sun, Wei; Rachev, Svetlozar T.; Chen, Ye; Fabozzi, Frank J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Volkswirtschaftslehre (ECON)
Publikationstyp Buch
Jahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 1000041629
Verlag KIT, Karlsruhe
Umfang 20 S.
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