KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Microwave cavity perturbation technique for high-temperature dielectric measurements

Soldatov, S.; Kayser, T.; Link, G.; Seitz, T.; Layer, S.; Jelonnek, J.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/MWSYM.2013.6697793
Scopus
Zitationen: 12
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Hochleistungsimpuls- und Mikrowellentechnik (IHM)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4673-6177-4
KITopen-ID: 1000041793
HGF-Programm 34.04.01 (POF II, LK 01)
Erschienen in IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest (IMS'13), Seattle, WA, June 2-7, 2013
Verlag IEEE, Piscataway, N.J.
Seiten 1-4
Nachgewiesen in Scopus
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page