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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/MWSYM.2013.6697793
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Zitationen: 10

Microwave cavity perturbation technique for high-temperature dielectric measurements

Soldatov, S.; Kayser, T.; Link, G.; Seitz, T.; Layer, S.; Jelonnek, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Hochleistungsimpuls- und Mikrowellentechnik (IHM)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4673-6177-4
KITopen ID: 1000041793
HGF-Programm 34.04.01; LK 01
Erschienen in IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest (IMS'13), Seattle, WA, June 2-7, 2013
Verlag IEEE, Piscataway, N.J.
Seiten 1-4
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