Microwave cavity perturbation technique for high-temperature dielectric measurements
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Hochleistungsimpuls- und Mikrowellentechnik (IHM) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2013 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-4673-6177-4 KITopen-ID: 1000041793 |
| HGF-Programm | 34.04.01 (POF II, LK 01) Mikrowellentechnik |
| Erschienen in | IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest (IMS'13), Seattle, WA, June 2-7, 2013 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 1-4 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |