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Temperature dependent dielectric measurements based on the microwave cavity perturbation technique

Soldatov, S.; Kayser, T.; Link, G.; Seitz, T.; Layer, S.; Jelonnek, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (IHE)
Institut für Hochleistungsimpuls- und Mikrowellentechnik (IHM)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-0-85-358293-9
KITopen ID: 1000041794
HGF-Programm 34.04.01; LK 01
Erschienen in 14th International Conference on Microwave and High Frequency Heating, Nottingham, UK, Septeberm 16-19, 2013. Ed.: G.A. Dimitrakis
Verlag University of Nottingham, Nottingham, UK
Seiten 297-300
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