Temperature dependent dielectric measurements based on the microwave cavity perturbation technique

Soldatov, S.; Kayser, T.; Link, G.; Seitz, T.; Layer, S.; Jelonnek, J.

Temperature dependent dielectric measurements based on the microwave cavity perturbation technique

Soldatov, S. ¹; Kayser, T. ¹; Link, G. ¹; Seitz, T. ¹; Layer, S. ¹; Jelonnek, J. ¹
¹ Institut für Hochleistungsimpuls- und Mikrowellentechnik (IHM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

Externe Links

Scopus

Export

Statistiken

Seitenaufrufe: 22
seit 09.09.2018

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (IHE) Institut für Hochleistungsimpuls- und Mikrowellentechnik (IHM)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	2013
Sprache	Englisch
Identifikator	ISBN: 978-0-85-358293-9 KITopen-ID: 1000041794
HGF-Programm	34.04.01 (POF II, LK 01) Mikrowellentechnik
Erschienen in	14th International Conference on Microwave and High Frequency Heating, Nottingham, UK, Septeberm 16-19, 2013. Ed.: G.A. Dimitrakis
Verlag	University of Nottingham
Seiten	297-300
Nachgewiesen in	Scopus

Repository KITopen

Temperature dependent dielectric measurements based on the microwave cavity perturbation technique